干涉成像光谱仪的通量特性分析

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干涉成像光谱仪的通量特性分析
摘 要:针对高分辨率成像光谱仪的应用要求,对大孔径静态干涉成像光谱仪在不同光照条件下进 行了计算分析,表明这种成像光谱仪在能量利用率方面有明显优势.研制仪器的机载飞行试验结 果表明,虽然机载试验在2004年12月份进行,太阳高度角在全年中最小,但是图像的个别地方仍 会饱和.机载飞行试验进一步验证了干涉成像光谱仪的高通量特性,同时也说明,仪器的地元分辨 率指标还有提高的潜力.

O 引言 干涉成像光谱仪是现代科学仪器的前沿技术和 发展趋势,它既可获取目标的图像信息,又可获取目 标的光谱信息,从获得的光谱图像数据中能够直接 反映出物质的光谱特征,从而揭示各种目标的光谱 特性、存在状况以及物质成份 J.它的原理特点使 得1二涉成像光谱仪在很多领域具有广泛的应用.如 军事目标图像及光谱辐射特性研究、土地资源考察、 林业遥感、环境检测、农业应用等.在成像光谱仪的 发展过程中,首先进入工程应用的是棱镜或光栅色 散型成像光谱仪,但是随着航空航天事业的飞速发 展,人们对成像光谱仪的技术指标要求越来越高,主 要表现在空间分辨率、光谱分辨率和对弱信号的探 洲能力等方面.色散型成像光谱仪存在着能量利用 率低等原理性缺陷,使这项技术的进一步发展受到 阻碍.无动镜干涉成像光谱技术的发展近年来受到 了前所未有的关注川.这种新型成像光谱技术在 原理上保留了高“能量通过力”的特点,并且可靠性 和稳定性好、体积小、光谱分辨率适中、实时性好、光 谱线性度高、光谱范围宽,特别适合在飞机和空间飞 行器上搭载,已引起国际上广泛的重视 。。 . 本文针对所研制的大孔径静态干涉成像光谱仪 的原理,对其高通量特性进行厂分析,飞行试验结果 也验证了这种成像光谱仪的高“能量通过力”的优点.

1 大孔径静态干涉成像光谱仪的原理 大孔径干涉成像光谱仪(LASIS)实际上是在一 个普通照相系统中加入横向剪切分束器,使最终像 面上得到的不再是目标的直接像,而是目标的干涉 图像,如图1,系统由前置光学系统,横向剪切分束 器、成像镜、CCD探测器组件、电子学系统和数据处 理部分组成.当飞行器向前飞行时,可以得到地面 景物的两维空间信息和一维光谱信息.“大孔径”的 真实意义是这种成像光谱仪具有很高的能量利用 率,也可以说它具有很高的探测灵敏度;“静态”指这 种成像光谱仪中不依靠运动部件来获取光谱信息, 稳定度高.每一成像时刻LASIS获得的图像都是 由未经色散的“点”组成,其能量通过力特点与普通 照相机相同,因此I ASIS具有高通量的优点.其主 要技术指标是,当飞机飞行高度为3 500 m时,地面 成像宽度500 m,地元分辨率100 mm,光谱范围 400 nm~1 000 Flm,相对孔径1/3.图2为I ASIS 的屏幕样机图. — 卜l — 一I 【! 4。 < I => 一一 _ 图1 I ASIS工作原理 Fig.1 The principle of LASIS 图2 LASIS样机三维模型

2 系统能量和信噪比计算
2.1 系统信噪比计算 影响干涉成像光谱仪信噪比的因素有信号强度 和系统噪音.信号强度与光学系统的相对孔径、使 用光谱范围、大气透过率、光学系统透过率、光学系 统视场角、太阳高度角、探测器的像元大小、积分时 间、量子效率等因素有关.噪音则主要包括系统的 散粒噪音、暗电流噪音和电路噪音等. 频谱分析仪| 电池测试仪| 相序表| 万用表| 功率计| 示波器| 电阻测试仪| 电阻计| 电表| 钳表| 高斯计| 电磁场测试仪| 电源供应器| 电能质量分析仪| 多功能测试仪| 电容表| 干涉图均值在一个CCD像元上产生的电子 数 为 Se — T ~ 1 T 2 T:~ F 一%t f了Df 、J一。 .,(. [1+COS(2~A,/2)]dX (1) 式中T 为大气透过率,取0.9,T 为干涉仪效率, 取0。4.T。:光学系统透过率,取0.7,s 为探测器像 元面积,3.24×10一mz,f0为地表反射系数,取0.05~ 0.85,t为系统的曝光时间,取3.6~5 ms,E为一个 电子的能量,取32×10 。J,D/f为光学系统的相 对孔径,取1:3, 、 为系统的光谱范围,取0.4 m~ 1.0 m,L ( )为太阳在此谱段的光谱辐照度, ( ) 为器件的量子效率,取平均值为0.55. 器件的饱和电子数为24×10 e一,器件噪音取 20e一.计算系统的信噪比时,按器件噪音计算后,最 后再减去3 dB.
2.2 不同条件下信噪比计算结果 根据计算式(1),可以计算当太阳直射时的系统 信噪比.当太阳高度角发生变化时,系统的信号强 度将发生很大变化.下面给出不同曝光时间、不同 地表反射率、不同太阳高度角下系统的信噪比计算 结果,见表1. 表1 f=2.5 mS时信号强度及s/N 注:表1所列为干涉图均值的信号强度与B/N 比,括号内的值为峰值的信号强度与S/N. 计算表明当系统相对孔径为F/6,而又取最大 图像S/N十分有利.计算表明当p一0.05, 一30。 可能曝光时间 一2.5 ms时,在最大光照条件下,会 时,峰值的S/N仍高于48 dB. 产生器件饱和,特别是在计算参量设定中,分束器效 表2是把曝光时间从 2.5IllS,iNNNt=].8m , 率,拼接棱镜透过率均有可能实际值高于理论计算 其目的是在最高光照条件下使器件不饱和,但它降 假定值.但它对于在低光照条件下,仍保持较高的 低了低光照条件下图像的S/N 比. 表2 f=1.8 mS时信号强度及S/N 从能量计算结果可以看出,LASIS干涉成像光 谱仪充分表现了在光能利用率方面的巨大优势,具 有较高的图像信噪比.若采用有级分档调节曝光时 间则效果会更好.

3 飞行试验验证 I ASIS于涉成像光谱仪于2004年l2月在烟 台进行了校飞试验.仪器通过机载稳定平台装到飞 机E对地面景物进行推扫成像.图3为仪器在机舱 内安装的照片.图4为飞行试验中得到的一幅原始 图像. 它的空间分辨率具有进一步提高的潜能.

4 结论 干涉成像光谱是新一代成像光谱仪的代表,理 论分析和在冬天进行的机载飞行试验均表明,它具 有高通量优点,比较适合于高窄问分辨率和高光谱 分辨率的成像光谱技术应用.

发布人:2010/9/28 9:43:001367 发布时间:2010/9/28 9:43:00 此新闻已被浏览:1367次